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74ABT18640DGGRG4

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74ABT18640DGGRG4

74ABT18640DGGRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP

74ABT18640DGGRG4 Technisches Datenblatt

nicht konform

74ABT18640DGGRG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
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500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Lieferantengerätepaket 56-TSSOP
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Zugehörige Teilenummer

SSTUM32868ET/S,518
NXP USA Inc.
SSTUM32868ET/S,518
$0 $/Stück
DM7445N
onsemi
DM7445N
$0 $/Stück
IDT74SSTUA32864BFG8
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTUA32864BFG8
$0 $/Stück
74SSTUBF32865ABKG
Renesas Electronics America Inc
74SSTUBF32865ABKG
$0 $/Stück
74SSTL16857DGGRG4
Texas Instruments
74SSTL16857DGGRG4
$0 $/Stück
SY100EL16VCZG
Microchip Technology
SY100EL16VCZG
$0 $/Stück
SSTVA16859AGT
Renesas Electronics America Inc
SSTVA16859AGT
$0 $/Stück
MC10H330P
onsemi
MC10H330P
$0 $/Stück
SY100EP16LSKI-TR
Microchip Technology
SY100EP16LSKI-TR
$0 $/Stück
SSTVA16859AG
Renesas Electronics America Inc
SSTVA16859AG
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