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8V182512IDGGREP

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8V182512IDGGREP

8V182512IDGGREP

Texas Instruments

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

8V182512IDGGREP Technisches Datenblatt

compliant

8V182512IDGGREP Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
2,000 $10.62400 -
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Lieferantengerätepaket 64-TSSOP
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Zugehörige Teilenummer

N74F283N,602
NXP USA Inc.
N74F283N,602
$0 $/Stück
MC10EL16DR2
onsemi
MC10EL16DR2
$0 $/Stück
54181DM
National Semiconductor
54181DM
$0 $/Stück
DM54S288J
Rochester Electronics, LLC
DM54S288J
$0 $/Stück
NTS0304EUKZ
NXP USA Inc.
NTS0304EUKZ
$0 $/Stück
CD4527BPWR
Texas Instruments
CD4527BPWR
$0 $/Stück
SN74ABT8996DWR
Texas Instruments
SN74ABT8996DWR
$0 $/Stück
SY89307VMG-TR
Microchip Technology
SY89307VMG-TR
$0 $/Stück
SN74LVT8980DW
Texas Instruments
SN74LVT8980DW
$0 $/Stück
SN74ACT8832AGB
Texas Instruments
SN74ACT8832AGB
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