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SN74ABT18245ADL

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SN74ABT18245ADL

SN74ABT18245ADL

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

SN74ABT18245ADL Technisches Datenblatt

compliant

SN74ABT18245ADL Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $13.53000 $13.53
500 $13.3947 $6697.35
1000 $13.2594 $13259.4
1500 $13.1241 $19686.15
2000 $12.9888 $25977.6
2500 $12.8535 $32133.75
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 56-SSOP
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Zugehörige Teilenummer

MC10EP17DT
onsemi
MC10EP17DT
$0 $/Stück
MC100LVEL16DR2
onsemi
MC100LVEL16DR2
$0 $/Stück
MC100EL16DTR2
onsemi
MC100EL16DTR2
$0 $/Stück
ISL55100BIRZ-T7A
Renesas Electronics America Inc
ISL55100BIRZ-T7A
$0 $/Stück
SN74SSTV16857DGGR
Texas Instruments
SN74SSTV16857DGGR
$0 $/Stück
SY100EL16VKG
Microchip Technology
SY100EL16VKG
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MC14007UBDG
onsemi
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$0 $/Stück
SN74LVC161284DGGR
Texas Instruments
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74LVC1GX04GW-Q100H
Nexperia USA Inc.
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