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SN74ABT18245ADLR

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SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

SN74ABT18245ADLR Technisches Datenblatt

compliant

SN74ABT18245ADLR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1,000 $6.61095 -
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 56-SSOP
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Zugehörige Teilenummer

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