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SN74ABT18502PM

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SN74ABT18502PM

SN74ABT18502PM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SN74ABT18502PM Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABT18502PM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $22.75000 $22.75
10 $20.98100 $209.81
25 $20.03800 $500.95
160 $17.91625 $2866.6
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

SN74SSTL16857DGGR
Texas Instruments
SN74SSTL16857DGGR
$0 $/Stück
MC100EP16VTD
onsemi
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$0 $/Stück
MC10EP116FAR2G
onsemi
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$0 $/Stück
93S42DC
National Semiconductor
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$0 $/Stück
93H00DC
National Semiconductor
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$0 $/Stück
SBSG16BA
onsemi
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$0 $/Stück
SN74ABT8996DW
Texas Instruments
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$0 $/Stück
AM2960/BZA
Advanced Micro Devices
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SMSC
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