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SN74ABT18652PM

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SN74ABT18652PM

SN74ABT18652PM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SN74ABT18652PM Technisches Datenblatt

compliant

SN74ABT18652PM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $19.89000 $19.89
10 $18.28300 $182.83
25 $17.52520 $438.13
160 $15.44100 $2470.56
640 $13.73584 $8790.9376
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

MC100EP16VTDTG
onsemi
MC100EP16VTDTG
$0 $/Stück
SN74ABT8646DL
Texas Instruments
SN74ABT8646DL
$0 $/Stück
54LS181FMQB
National Semiconductor
54LS181FMQB
$0 $/Stück
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
$0 $/Stück
AM29C660AJC
Advanced Micro Devices
AM29C660AJC
$0 $/Stück
SN74S1051D
Texas Instruments
SN74S1051D
$0 $/Stück
SY89206VMG-TR
Microchip Technology
SY89206VMG-TR
$0 $/Stück
SN74LVC1GX04DCKR
Texas Instruments
SN74LVC1GX04DCKR
$0 $/Stück
MC100EP16VCDR2G
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MC100EP16VADT
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