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SN74ABT8245DWR

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SN74ABT8245DWR

SN74ABT8245DWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

SN74ABT8245DWR Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABT8245DWR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
2,000 $3.49960 -
2000 items
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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