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SN74ABT8646DWRG4

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SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

SOT-23

SN74ABT8646DWRG4 Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABT8646DWRG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

SSTV16857EV,151
NXP USA Inc.
SSTV16857EV,151
$0 $/Stück
SN74AS181ADWRE4
Texas Instruments
SN74AS181ADWRE4
$0 $/Stück
SY10EL16VEKG TR
Microchip Technology
SY10EL16VEKG TR
$0 $/Stück
SY10EP16VKG-TR
Microchip Technology
SY10EP16VKG-TR
$0 $/Stück
SY10EL16VBKG TR
Microchip Technology
SY10EL16VBKG TR
$0 $/Stück
SSTUG32866EC/G,518
NXP USA Inc.
SSTUG32866EC/G,518
$0 $/Stück
SSTUA32864BHMLF
Renesas Electronics America Inc
SSTUA32864BHMLF
$0 $/Stück
SNJ54LS381AJ
Texas Instruments
SNJ54LS381AJ
$0 $/Stück
SY100E116JC
Microchip Technology
SY100E116JC
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SSTUA32S865ET,557
NXP USA Inc.
SSTUA32S865ET,557
$0 $/Stück
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