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SN74ABT8652DWRE4

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SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

SN74ABT8652DWRE4 Technisches Datenblatt

compliant

SN74ABT8652DWRE4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

CD4007UBEG4
Texas Instruments
CD4007UBEG4
$0 $/Stück
SSTUH32865ET,557
NXP USA Inc.
SSTUH32865ET,557
$0 $/Stück
PI74SSTVF16859AZBE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16859AZBE
$0 $/Stück
CD40117BNSRG4
Texas Instruments
CD40117BNSRG4
$0 $/Stück
MC10H116P
onsemi
MC10H116P
$0 $/Stück
SSTVF16857AGLFT
Renesas Electronics America Inc
SSTVF16857AGLFT
$0 $/Stück
CD40117BNSRE4
Texas Instruments
CD40117BNSRE4
$0 $/Stück
MC100EP16FDR2
onsemi
MC100EP16FDR2
$0 $/Stück
SY10EL16VZC-TR
Microchip Technology
SY10EL16VZC-TR
$0 $/Stück
SSTV16857EV,157
NXP USA Inc.
SSTV16857EV,157
$0 $/Stück
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