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SN74ABT8652DWRG4

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SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

SN74ABT8652DWRG4 Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABT8652DWRG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

SSTUH32865ET,518
NXP USA Inc.
SSTUH32865ET,518
$0 $/Stück
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
$0 $/Stück
SSTU32864EC,557
NXP USA Inc.
SSTU32864EC,557
$0 $/Stück
SY100EL16VEKI
Microchip Technology
SY100EL16VEKI
$0 $/Stück
SSTVA16859CGLFT
Renesas Electronics America Inc
SSTVA16859CGLFT
$0 $/Stück
SY10EL16VCKC
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SY10EL16VCKC
$0 $/Stück
SSTVF16859BGT
Renesas Electronics America Inc
SSTVF16859BGT
$0 $/Stück
SY10EL16VBZI
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SY10EL16VBZI
$0 $/Stück
IDT74SSTU32864ABFG8
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SN74LS283DRG4
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SN74LS283DRG4
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