SN74ABT8952DW Texas Instruments von ichome.com

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SN74ABT8952DW

Teilenummer des Herstellers:SN74ABT8952DW

Hersteller:Texas Instruments

Beschreibung:IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Technisches Datenblatt:SN74ABT8952DW Technisches Datenblatt

RoHs-Status:compliant

Menge	Stückpreis	Ext. Preis
1	$6.62000	$6.62
500	$6.5538	$3276.9
1000	$6.4876	$6487.6
1500	$6.4214	$9632.1
2000	$6.3552	$12710.4
2500	$6.289	$15722.5

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Technische Daten
Technisches Datenblatt

Name	Wert
Produktstatus	Obsolete
Logiktyp	Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung	4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits	8
Betriebstemperatur	-40°C ~ 85°C
Montageart	Surface Mount
Paket / Koffer	28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket	28-SOIC

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