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SN74ABT8952DWR

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SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

SN74ABT8952DWR Technisches Datenblatt

compliant

SN74ABT8952DWR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $5.50000 $5.5
500 $5.445 $2722.5
1000 $5.39 $5390
1500 $5.335 $8002.5
2000 $5.28 $10560
2500 $5.225 $13062.5
2000 items
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

SN74ABT8652DW
Texas Instruments
SN74ABT8652DW
$0 $/Stück
SN74BCT29854DWR
Texas Instruments
SN74BCT29854DWR
$0 $/Stück
74HC283N,652
NXP USA Inc.
74HC283N,652
$0 $/Stück
AM2902ALMB
Advanced Micro Devices
AM2902ALMB
$0 $/Stück
CD74HCT283M96
Texas Instruments
CD74HCT283M96
$0 $/Stück
CD4007AK
Harris Corporation
CD4007AK
$0 $/Stück
MC100E116FN
onsemi
MC100E116FN
$0 $/Stück
SN74LS283D
onsemi
SN74LS283D
$0 $/Stück
74LVX161284MTDX
onsemi
74LVX161284MTDX
$0 $/Stück
MC100EP16FDTR2G
onsemi
MC100EP16FDTR2G
$0 $/Stück
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