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SN74ABTH18652APM

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SN74ABTH18652APM

SN74ABTH18652APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SOT-23

SN74ABTH18652APM Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABTH18652APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $17.94000 $17.94
10 $16.48400 $164.84
25 $15.80080 $395.02
160 $13.92181 $2227.4896
640 $12.38445 $7926.048
6459 items
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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