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SN74BCT8240ADWR

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SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

SN74BCT8240ADWR Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8240ADWR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $6.85000 $6.85
500 $6.7815 $3390.75
1000 $6.713 $6713
1500 $6.6445 $9966.75
2000 $6.576 $13152
2500 $6.5075 $16268.75
30000 items
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

MC100EP16MNR4G
onsemi
MC100EP16MNR4G
$0 $/Stück
74AUP1Z04GF132
NXP USA Inc.
74AUP1Z04GF132
$0 $/Stück
SN74BCT8245ANT
Texas Instruments
SN74BCT8245ANT
$0 $/Stück
SN74S1052N
Texas Instruments
SN74S1052N
$0 $/Stück
MC10H332FNR2
onsemi
MC10H332FNR2
$0 $/Stück
MC10EP116FAR2
onsemi
MC10EP116FAR2
$0 $/Stück
NB100LVEP17MNR2G
onsemi
NB100LVEP17MNR2G
$0 $/Stück
NXS0104BQ-Q100X
Nexperia USA Inc.
NXS0104BQ-Q100X
$0 $/Stück
SN74SSTVF16859S8G3
Texas Instruments
SN74SSTVF16859S8G3
$0 $/Stück
ISL55100BIRZ
Renesas Electronics America Inc
ISL55100BIRZ
$0 $/Stück
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