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SN74BCT8240ANTG4

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SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8240ANTG4 Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8240ANTG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Through Hole
Paket / Koffer 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP
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Zugehörige Teilenummer

SN74ABT18640DGGR
Texas Instruments
SN74ABT18640DGGR
$0 $/Stück
PI74SSTVF16857KE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16857KE
$0 $/Stück
74LVC1GX04DCKTG4
Texas Instruments
74LVC1GX04DCKTG4
$0 $/Stück
SSTU32864AHLF
Renesas Electronics America Inc
SSTU32864AHLF
$0 $/Stück
IDT74SSTVN16859CPAG
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTVN16859CPAG
$0 $/Stück
SY100EL16VFZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VFZC TR
$0 $/Stück
SY100E116JY
Microchip Technology
SY100E116JY
$0 $/Stück
CD74ACT283E
Harris Corporation
CD74ACT283E
$0 $/Stück
SSTUH32866EC,557
NXP USA Inc.
SSTUH32866EC,557
$0 $/Stück
CD74ACT283EG4
Texas Instruments
CD74ACT283EG4
$0 $/Stück
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