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SN74BCT8244ANTG4

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SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8244ANTG4 Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8244ANTG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Buffers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Through Hole
Paket / Koffer 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP
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Zugehörige Teilenummer

SSTUH32866EC/G,518
NXP USA Inc.
SSTUH32866EC/G,518
$0 $/Stück
MC10H332P
onsemi
MC10H332P
$0 $/Stück
SY100EL16VBZC
Microchip Technology
SY100EL16VBZC
$0 $/Stück
SY100EL16VBZI-TR
Microchip Technology
SY100EL16VBZI-TR
$0 $/Stück
SY100EL16VBKG
Microchip Technology
SY100EL16VBKG
$0 $/Stück
SY100EL16VCZI
Microchip Technology
SY100EL16VCZI
$0 $/Stück
SY100S314FC
Microchip Technology
SY100S314FC
$0 $/Stück
MM54C83W/883C
National Semiconductor
MM54C83W/883C
$0 $/Stück
SSTV16859CKLF
Renesas Electronics America Inc
SSTV16859CKLF
$0 $/Stück
MC100EP16VCDR2
onsemi
MC100EP16VCDR2
$0 $/Stück
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