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SN74BCT8373ADW

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SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

SN74BCT8373ADW Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74BCT8373ADW Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
75 $9.23320 $692.49
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

SN74ABT8646DW
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SN74ABT8646DW
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