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SN74BCT8374ADWR

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SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SN74BCT8374ADWR Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74BCT8374ADWR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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Zugehörige Teilenummer

CD40117BMT
Texas Instruments
CD40117BMT
$0 $/Stück
PI74SSTVF16857AAE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16857AAE
$0 $/Stück
SY100EL16VZI
Microchip Technology
SY100EL16VZI
$0 $/Stück
SY100EP16VZG-TR
Microchip Technology
SY100EP16VZG-TR
$0 $/Stück
SY100EL16VEZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VEZC TR
$0 $/Stück
MC100EP16VSDR2
onsemi
MC100EP16VSDR2
$0 $/Stück
74LVT1403DR,118
NXP USA Inc.
74LVT1403DR,118
$0 $/Stück
SY10EP16VKC
Microchip Technology
SY10EP16VKC
$0 $/Stück
SY10EL16VDZC
Microchip Technology
SY10EL16VDZC
$0 $/Stück
SSTUA32864EC/G,551
NXP USA Inc.
SSTUA32864EC/G,551
$0 $/Stück
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