Welcome to ichome.com!

logo
Heim

SN74BCT8374ADWRE4

  • SN74BCT8374ADWRE4
  • SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SN74BCT8374ADWRE4 Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8374ADWRE4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
Send Inquiry
Zur Wunschliste hinzufügen
Bom Kosten senken
Bom Kosten senken
Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein
Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein
Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
Das Laden der PDF ist fehlgeschlagen. Sie können versuchen, sie in einem neuen Fenster zu öffnen, um darauf zuzugreifen [Offen], oder klicken Sie hier, um zurückzukehren

Zugehörige Teilenummer

SSTUG32865ET/S,518
NXP USA Inc.
SSTUG32865ET/S,518
$0 $/Stück
SY100S314JY
Microchip Technology
SY100S314JY
$0 $/Stück
5483ADM
National Semiconductor
5483ADM
$0 $/Stück
PI74SSTVF16857AEX
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16857AEX
$0 $/Stück
SSTUA32866EC,518
NXP USA Inc.
SSTUA32866EC,518
$0 $/Stück
SSTVF16859BS,157
NXP USA Inc.
SSTVF16859BS,157
$0 $/Stück
SY100S314JC
Microchip Technology
SY100S314JC
$0 $/Stück
74GTLP22034DGGRG4
Texas Instruments
74GTLP22034DGGRG4
$0 $/Stück
SY100EL16VFKI
Microchip Technology
SY100EL16VFKI
$0 $/Stück
NLV14490DWG
onsemi
NLV14490DWG
$0 $/Stück
Alle zugehörigen Artikel anzeigen

Ihr zuverlässiger Partner in der Elektronik

Wir sind bestrebt, Ihre Erwartungen zu übertreffen. IChome: Kundenservice neu definiert für die Elektronikbranche.