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SN74BCT8374ANTG4

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SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

SOT-23

SN74BCT8374ANTG4 Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74BCT8374ANTG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Through Hole
Paket / Koffer 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP
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Zugehörige Teilenummer

SY10EL16VCKG
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N74F283D,602
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IDT74SSTU32864DBFG
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTU32864DBFG
$0 $/Stück
SSTVF16857DGG,512
NXP USA Inc.
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SSTUH32864EC/G,518
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