SN74BCT8374ANTG4 Texas Instruments von ichome.com

new-10%

SN74BCT8374ANTG4

Teilenummer des Herstellers:SN74BCT8374ANTG4

Hersteller:Texas Instruments

Beschreibung:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Technisches Datenblatt:SN74BCT8374ANTG4 Technisches Datenblatt

RoHs-Status:nicht konform

Menge	Stückpreis	Ext. Preis
1	$0.00000	$0
500	$0	$0
1000	$0	$0
1500	$0	$0
2000	$0	$0
2500	$0	$0

Auf Lager: 0 items

Zur Wunschliste hinzufügen

Bom Kosten senken

Bom Kosten senken

Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein

Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein

Technische Daten
Technisches Datenblatt

Name	Wert
Produktstatus	Obsolete
Logiktyp	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung	4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits	8
Betriebstemperatur	0°C ~ 70°C
Montageart	Through Hole
Paket / Koffer	24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket	24-PDIP

Zugehörige Teilenummer

neu

Microchip Technology

SY10EL16VCKG

$0 $/Stück

neu

N74F283D,602

$0 $/Stück

neu

IDT74SSTU32864DBFG

Renesas Electronics America Inc

IDT74SSTU32864DBFG

$0 $/Stück

neu

SSTVF16857DGG,512

SSTVF16857DGG,512

$0 $/Stück

neu

SSTUH32864EC/G,518

SSTUH32864EC/G,518

$0 $/Stück

neu

Microchip Technology

SY10EP16UZG

$0 $/Stück

neu

Renesas Electronics America Inc

SSTUA32864BHLF

$0 $/Stück

neu

CD4007CN

$0 $/Stück

neu

SSTV16859DGG,118

SSTV16859DGG,118

$0 $/Stück

neu

Microchip Technology

SY10EL16VBKG

$0 $/Stück

Alle zugehörigen Artikel anzeigen

Ihr zuverlässiger Partner in der Elektronik

Wir sind bestrebt, Ihre Erwartungen zu übertreffen. IChome: Kundenservice neu definiert für die Elektronikbranche.