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SN74LVTH182502APM

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SN74LVTH182502APM

SN74LVTH182502APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH182502APM Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74LVTH182502APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $6.72000 $6.72
500 $6.6528 $3326.4
1000 $6.5856 $6585.6
1500 $6.5184 $9777.6
2000 $6.4512 $12902.4
2500 $6.384 $15960
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

74AUP1Z04GW/C125
NXP USA Inc.
74AUP1Z04GW/C125
$0 $/Stück
SN74S1053PWR
Texas Instruments
SN74S1053PWR
$0 $/Stück
SN74ACT1071DR
Texas Instruments
SN74ACT1071DR
$0 $/Stück
SN74S1051NSR
Texas Instruments
SN74S1051NSR
$0 $/Stück
4008BDC
National Semiconductor
4008BDC
$0 $/Stück
SN74ABT18640DL
Texas Instruments
SN74ABT18640DL
$0 $/Stück
NTS0304EPWJ
NXP USA Inc.
NTS0304EPWJ
$0 $/Stück
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74LV161284DL
$0 $/Stück
MC10LVEP16DTR2G
onsemi
MC10LVEP16DTR2G
$0 $/Stück
MC100EL16DR2
onsemi
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$0 $/Stück
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