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SN74LVTH182504APM

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SN74LVTH182504APM

SN74LVTH182504APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH182504APM Technisches Datenblatt

compliant

SN74LVTH182504APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $8.13000 $8.13
10 $7.34400 $73.44
25 $7.00280 $175.07
160 $6.08050 $972.88
640 $5.29480 $3388.672
1,120 $4.61160 -
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 20
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

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$0 $/Stück
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onsemi
MC10EP17MNG
$0 $/Stück
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