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SN74LVTH18502APMG4

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SN74LVTH18502APMG4

SN74LVTH18502APMG4

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18502APMG4 Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74LVTH18502APMG4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

SN74ABT8646DWRE4
Texas Instruments
SN74ABT8646DWRE4
$0 $/Stück
SY54016ARMG-TR
Microchip Technology
SY54016ARMG-TR
$0 $/Stück
MAX9963AJCCQ+D
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
MAX9963AJCCQ+D
$0 $/Stück
SY10EL16VZC
Microchip Technology
SY10EL16VZC
$0 $/Stück
SY10EP16VZG-TR
Microchip Technology
SY10EP16VZG-TR
$0 $/Stück
74F182SJX
Fairchild Semiconductor
74F182SJX
$0 $/Stück
74SSTUBF32869ABKG
Renesas Electronics America Inc
74SSTUBF32869ABKG
$0 $/Stück
SY100EL16VOKG-TR
Microchip Technology
SY100EL16VOKG-TR
$0 $/Stück
SY100EL16VSKI-TR
Microchip Technology
SY100EL16VSKI-TR
$0 $/Stück
SSTU32866EC/G,551
NXP USA Inc.
SSTU32866EC/G,551
$0 $/Stück
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