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SN74LVTH18504APM

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SN74LVTH18504APM

SN74LVTH18504APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18504APM Technisches Datenblatt

compliant

SN74LVTH18504APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $6.72000 $6.72
500 $6.6528 $3326.4
1000 $6.5856 $6585.6
1500 $6.5184 $9777.6
2000 $6.4512 $12902.4
2500 $6.384 $15960
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 20
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

SN5480J
Texas Instruments
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$0 $/Stück
SN74TVC3306DCUR
Texas Instruments
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$0 $/Stück
AM29C985JC
Advanced Micro Devices
AM29C985JC
$0 $/Stück
MC100EP116FAG
onsemi
MC100EP116FAG
$0 $/Stück
MC100EP16DTG
onsemi
MC100EP16DTG
$0 $/Stück
SN74S1051PWR
Texas Instruments
SN74S1051PWR
$0 $/Stück
74LVCZ161284ATTR
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74LVCZ161284ATTR
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MC100EP16FDTG
onsemi
MC100EP16FDTG
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