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SN74LVTH18646APM

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SN74LVTH18646APM

SN74LVTH18646APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18646APM Technisches Datenblatt

compliant

SN74LVTH18646APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $17.83000 $17.83
10 $16.38400 $163.84
25 $15.70480 $392.62
160 $13.83706 $2213.9296
640 $12.30905 $7877.792
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

74F381SJ
Rochester Electronics, LLC
74F381SJ
$0 $/Stück
CDC339NS
Texas Instruments
CDC339NS
$0 $/Stück
74HC283FPEL-E
Renesas Electronics America Inc
74HC283FPEL-E
$0 $/Stück
MC100LVEP16DTR2
onsemi
MC100LVEP16DTR2
$0 $/Stück
SN74S1052NSR
Texas Instruments
SN74S1052NSR
$0 $/Stück
SN74S1053DWG4
Texas Instruments
SN74S1053DWG4
$0 $/Stück
NB7L216MNG
onsemi
NB7L216MNG
$0 $/Stück
SN74LVC1GX04DCKT
Texas Instruments
SN74LVC1GX04DCKT
$0 $/Stück
MC10EP16VADR2
onsemi
MC10EP16VADR2
$0 $/Stück
MC100EL16DTR2G
onsemi
MC100EL16DTR2G
$0 $/Stück
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