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SN74ABTH182646APM

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SN74ABTH182646APM

SN74ABTH182646APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SN74ABTH182646APM Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74ABTH182646APM Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $20.18000 $20.18
10 $18.61200 $186.12
25 $17.77520 $444.38
160 $15.89313 $2542.9008
640 $14.42928 $9234.7392
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
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Zugehörige Teilenummer

SN74ABTE16245DGGR
Texas Instruments
SN74ABTE16245DGGR
$0 $/Stück
SN74ABT18245ADLR
Texas Instruments
SN74ABT18245ADLR
$0 $/Stück
SY89316VMG-TR
Microchip Technology
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$0 $/Stück
SN74S1053NSR
Texas Instruments
SN74S1053NSR
$0 $/Stück
AM2954DC
Advanced Micro Devices
AM2954DC
$0 $/Stück
MC100EL16D
onsemi
MC100EL16D
$0 $/Stück
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$0 $/Stück
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