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SN74BCT8240ADWRE4

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SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

SN74BCT8240ADWRE4 Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74BCT8240ADWRE4 Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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