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SN74BCT8240ANT

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SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8240ANT Technisches Datenblatt

nicht konform

SN74BCT8240ANT Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $6.85000 $6.85
500 $6.7815 $3390.75
1000 $6.713 $6713
1500 $6.6445 $9966.75
2000 $6.576 $13152
2500 $6.5075 $16268.75
1404 items
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Name Wert
Produktstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Through Hole
Paket / Koffer 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP
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Zugehörige Teilenummer

54AC02/BCA
Rochester Electronics, LLC
54AC02/BCA
$0 $/Stück
SY100EL16VSKG-TR
Microchip Technology
SY100EL16VSKG-TR
$0 $/Stück
NB100LVEP17MNR2
onsemi
NB100LVEP17MNR2
$0 $/Stück
CD4007UBMT
Texas Instruments
CD4007UBMT
$0 $/Stück
SN74BCT8244ADWR
Texas Instruments
SN74BCT8244ADWR
$0 $/Stück
SY100EL16VCKG
Microchip Technology
SY100EL16VCKG
$0 $/Stück
SN74AS181ANT
Texas Instruments
SN74AS181ANT
$0 $/Stück
CD4038BFX
Harris Corporation
CD4038BFX
$0 $/Stück
SN7497N
Texas Instruments
SN7497N
$0 $/Stück
SN74LVTH18646APM
Texas Instruments
SN74LVTH18646APM
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