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SN74BCT8245ADWR

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SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

SN74BCT8245ADWR Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8245ADWR Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
2,000 $5.85520 -
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Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
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