Welcome to ichome.com!

logo
Heim

SN74BCT8374ADW

  • SN74BCT8374ADW
  • SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SN74BCT8374ADW Technisches Datenblatt

compliant

SN74BCT8374ADW Preise und Bestellung

Menge Stückpreis Ext. Preis
1 $10.72000 $10.72
10 $9.68400 $96.84
25 $9.23320 $230.83
100 $8.01710 $801.71
500 $6.98120 $3490.6
1,000 $6.08040 -
Inventory changes frequently.
Send Inquiry
Zur Wunschliste hinzufügen
Bom Kosten senken
Bom Kosten senken
Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein
Großhandelspreise für jede Bestellung, ob groß oder klein
Name Wert
Produktstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Montageart Surface Mount
Paket / Koffer 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
Das Laden der PDF ist fehlgeschlagen. Sie können versuchen, sie in einem neuen Fenster zu öffnen, um darauf zuzugreifen [Offen], oder klicken Sie hier, um zurückzukehren

Zugehörige Teilenummer

SN74ABT8245DWR
Texas Instruments
SN74ABT8245DWR
$0 $/Stück
NXS0104BQX
Nexperia USA Inc.
NXS0104BQX
$0 $/Stück
MC100EP16DR2G
onsemi
MC100EP16DR2G
$0 $/Stück
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
$0 $/Stück
SY100EP16UMG-TR
Microchip Technology
SY100EP16UMG-TR
$0 $/Stück
DM74LS283M
Fairchild Semiconductor
DM74LS283M
$0 $/Stück
MC100LVEL17DWR2G
onsemi
MC100LVEL17DWR2G
$0 $/Stück
HEF4007UBP,652
NXP USA Inc.
HEF4007UBP,652
$0 $/Stück
CD40117BPWR
Texas Instruments
CD40117BPWR
$0 $/Stück
MC100EP16VAMNR4G
onsemi
MC100EP16VAMNR4G
$0 $/Stück
Alle zugehörigen Artikel anzeigen

Ihr zuverlässiger Partner in der Elektronik

Wir sind bestrebt, Ihre Erwartungen zu übertreffen. IChome: Kundenservice neu definiert für die Elektronikbranche.